SGD-2 單光子計(jì)數(shù)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) 該實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，由單光子計(jì)數(shù)器，半導(dǎo)體制冷系統(tǒng)，外光路光學(xué)系統(tǒng)，光功率指示儀，工作軟件等組成。系統(tǒng)采用了脈沖高度甄別計(jì)數(shù)和數(shù)字計(jì)數(shù)技術(shù)，具有較高的線性動(dòng)態(tài)范圍。輸出的數(shù)字信號(hào)，便于計(jì)算機(jī)處理，為教師做相關(guān)教學(xué)提供了必要的實(shí)驗(yàn)環(huán)境。

XGS-1 電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) 電子散斑干涉（ESPI）實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)借助于粗糙表面信息的攜帶者——散斑來研究物體離面形變，是計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)、激光技術(shù)以及全息干涉技術(shù)相結(jié)合的一種現(xiàn)代光測(cè)技術(shù)。激光的高相干性使散斑現(xiàn)象顯而易見，采用CCD攝像機(jī)，使之可采用計(jì)算機(jī)處理數(shù)據(jù)和圖像。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛，如物體形變測(cè)量、無損測(cè)量、振動(dòng)測(cè)量等。

XGS-2 激光散斑照相實(shí)驗(yàn)裝置 利用二次曝光散斑圖進(jìn)行物體表面面內(nèi)位移場(chǎng)的測(cè)試，以及由此引伸出來的應(yīng)變，距離，速度測(cè)試，物體內(nèi)在缺陷和振動(dòng)分析是散斑效應(yīng)有前途的應(yīng)用領(lǐng)域。 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容 1、拍攝自由空間散斑和成像散斑圖，了解激光散斑現(xiàn)象及其特點(diǎn) 2、掌握二次曝光散斑圖的逐點(diǎn)分析和全場(chǎng)分析測(cè)物體面內(nèi)位移的方法

XGS-3 電子及激光散斑實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) 本實(shí)驗(yàn)包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進(jìn)行物體表面面內(nèi)位移場(chǎng)的測(cè)試，以及由此引伸出來的應(yīng)變、應(yīng)力場(chǎng)測(cè)試、距離、速度測(cè)試、物體內(nèi)在缺陷和振動(dòng)分析是散斑效應(yīng)有前途的應(yīng)用領(lǐng)域。

HNL-55700多束光纖激光源采用550mm功率激光管和進(jìn)口高傳輸性光纖，通過精密光學(xué)分束機(jī)構(gòu)分至七束光纖，每束光纖長度為4米，ZUI多為七臺(tái)邁氏干涉儀提供擴(kuò)束光源。